粉晶X射线衍射分析

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粉晶X射线衍射法广泛应用于冶金、石油、化工、科研、航空航天、教学、材料生产等领域，具体应用如下：

1)区分晶质体与非晶质体及准晶体;

2)物相定性、定量分析，包括无机晶相、有机晶相、晶相、煤等;

3)衍射线指标化，并确定格子类型; 4)晶胞参数的测定;

5)粘土矿物的X射线定性、定量分析; 6)结晶度、晶粒大小及残余应力测定; 7)晶体结构解析与精修; 8)薄膜厚度的测定

X射线衍射分析样品要求

1、金属样品如块状、板状、圆拄状要求磨成一个平面，面积不小于10X10毫米。

2、对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向，衍射强度异常。因此要求测试时合理选

择响应的方向平面。

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3、对于测量金属样品的微观应力(晶格畸变)，测量残余奥氏体，要求样品不能简单粗磨，要求制备成金相样品，并进行普通抛光或电解抛光，消除表面应变层。

4、粉末样品要求磨成320目的粒度，约40微米。粒度粗大衍射强度底，峰形不好，分辨率低。要了解样品的物理化学性质，如是否易燃，易潮解，易腐蚀、有毒、易挥发。

5、粉末样品要求在3克左右，如果太少也需5毫克。 6、样品可以是金属、非金属、有机、无机材料粉末。

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