X射线衍射分析实验报告

2023-08-07 22:26:12   文档大全网     [ 字体: ] [ 阅读: ]

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X射线衍射分析实验报告

一、实验目的

1.学会X射线衍射实验的制样过程,了解X射线衍射仪的操作过程 2.学会根据XRD图谱进行相应的定性和定量分析



.实验原理

对于 X 射线衍射,当光程差等于波长的整数倍时,相邻晶面的“反射线”将加强,此时满足的条件为:

2dsinθ=

其中,d为晶面间距,θ 为为半衍射角,λ 为波长,n为反射级数。 该方程是晶体衍射的理论基础,它简单明确地阐明衍射的基本关系,从实验上可有两方面的应用

一是用已知波长的X射线去照射未知结构的晶体,通过衍射角的测量求得晶体中各晶面的间距d,从而揭示晶体的结构,这就是结构分析(衍射分析)

二是用已知晶面间距的晶体来反射从样品发射出来的X射线,通过衍射角的测量求得X射线的波长,这就是 X射线光谱学。该法除可进行光谱结构的研究外,从 X 射线波长也可以确定试样的组成元素。

.实验仪器

仪器型号:日本理学D/max2550 主要技术指标:靶:铜靶

X射线发生器功率:18 kW(40 kV,450 mA) X射线发生器稳定度:±0.01% 最大计数:100cps 重复性:1°/10000

.实验步骤 1.仪器准备

1)开机前检查实验环境,室温保持在20±5℃,湿度低于60% 2D/max主机的主电源开关,手动开启真空系统,运行24小时后切换成自动,D/max主机面板上的“START;

3X射线发生器系统低于规定值时,启动X射线发生器外循环水冷系统; 4)打开控制系统通讯电源,进行阳极靶的老化。

2.样品制备

将达到要求的粉末状试样(5-10μm)填入样品架,轻压使试样分布均匀


3.谱图测定

1)将制好的样品放在样品台上,关上主机前门;

2)设定相应的仪器参数,start angle 5°,stop angle90°,scan speed 10°/min 扫描电压为40 kV,扫描电流为100 mA,开始测定。

4.数据处理

打开安全门,取出样品,用数据分析软件进行谱图的分析。

.实验数据记录与分析



上图即为我们所得到XRD谱图,利用分析软件对谱图可以进行定性分析,其中POM值可以帮助我们该成分存在的可能性,POM越低,该成分存在的概率越大。




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