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X射线衍射分析实验报告
一、实验目的
1.学会X射线衍射实验的制样过程,了解X射线衍射仪的操作过程 2.学会根据XRD图谱进行相应的定性和定量分析
二.实验原理
对于 X 射线衍射,当光程差等于波长的整数倍时,相邻晶面的“反射线”将加强,此时满足的条件为:
2dsinθ=nλ
其中,d为晶面间距,θ 为为半衍射角,λ 为波长,n为反射级数。 该方程是晶体衍射的理论基础,它简单明确地阐明衍射的基本关系,从实验上可有两方面的应用:
一是用已知波长的X射线去照射未知结构的晶体,通过衍射角的测量求得晶体中各晶面的间距d,从而揭示晶体的结构,这就是结构分析(衍射分析);
二是用已知晶面间距的晶体来反射从样品发射出来的X射线,通过衍射角的测量求得X射线的波长,这就是 X射线光谱学。该法除可进行光谱结构的研究外,从 X 射线波长也可以确定试样的组成元素。
三.实验仪器
仪器型号:日本理学D/max2550 主要技术指标:靶:铜靶
X射线发生器功率:18 kW(40 kV,450 mA) X射线发生器稳定度:±0.01% 最大计数:100万cps 重复性:1°/10000
四.实验步骤 1.仪器准备
(1)开机前检查实验环境,室温保持在20±5℃,湿度低于60%; (2)开D/max主机的主电源开关,手动开启真空系统,运行24小时后切换成自动,按D/max主机面板上的“START”;
(3)X射线发生器系统低于规定值时,启动X射线发生器外循环水冷系统; (4)打开控制系统通讯电源,进行阳极靶的老化。
2.样品制备
将达到要求的粉末状试样(5-10μm)填入样品架,轻压使试样分布均匀
3.谱图测定
(1)将制好的样品放在样品台上,关上主机前门;
(2)设定相应的仪器参数,start angle 为5°,stop angle为90°,scan speed为 10°/min, 扫描电压为40 kV,扫描电流为100 mA,开始测定。
4.数据处理
打开安全门,取出样品,用数据分析软件进行谱图的分析。
五.实验数据记录与分析
上图即为我们所得到XRD谱图,利用分析软件对谱图可以进行定性分析,其中POM值可以帮助我们该成分存在的可能性,POM越低,该成分存在的概率越大。
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