SAK-155数显卡尺内校标准

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标准书名称 一、 适用范围：

适用于本公司检测用之数显卡尺。 二、 管理权责：工程部。 三、 作业程序：

3-1依《量检具校验一览表》上所使用的外校合格、且在有效期内的量块、平板，并找出《量检

具设备校验履历表》及要求使用单位提供受检之设备。 3-2备妥清洁用布、治工具内校记录表。

3-3外观要求，数显卡尺表面不应有锈迹、碰伤、镀层脱落及其他影响质量的缺陷，数字显示应

清晰、完整，无黑斑和闪跳现象，各按钮功能可靠，工作稳定。

3-4各部分相互作用，尺框沿尺身移动应手感平稳，深度尺不应有窜动，紧固螺母的作用应可

靠。

3-5刀口内量爪尺寸检测，将一块6等（或以上）量块置于两外量爪测面之间，旋紧固定螺钉，

量块不应滑落，用杠杆千分尺在全长范围内测量内量爪尺寸，尺寸偏差由测得值与量块之差确定，检定结果不应大于下表的规定：

新制的和修理后 +0.015～0



3-6示值变动性，移动尺框，使两外量面至手感接触时在表上读数，移动尺框五次，其最大与最

小值之差为变动性，检定结果不应大于0.01mm。 3-7示值误差检测：

3-7-1外测量爪示值误差，用标准量块进行检测，各点示值误差以该点读数值与量块尺寸之

差确定，检定结果不应大于下表的规定。一般检测三点。下表为一般推荐检测点： 测量范围 0～150 0～200 0～300



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使用中 +0.015～-0.005



检 定 点

38.4 38.4 76.8

76.8 145.6 214.4

145.6 196.8 299.2








标准书名称



示值误差规定：

受检尺寸 0～200 ≥200～300 ≥300～500



3-7-2深度尺示值误差：用一块尺寸为20mm的6等或以上量块于平板上进行检定，读数值与

量块尺寸之差即为检定结果。

3-8依检验结果进行判定后呈部门主管核准。

3-9部门主管核准时，对于被判定不合格者，须做出“报废”、“暂停使用”等决定并签章。 3-10依3-8、3-9之判定后予以标示，标示方法依《检测设备校准作业办法》实施。 3-11校准温度原则为20±5℃环境，其他相关规定依《检测设备校准作业办法》。 3-12依3-10做出标示后，归位并记录于《量检具设备校验履历表》内。 3-13校验合格后，数显卡尺校验周期为一年。 四、附表：

4-1仪器设备内校记录表





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示值误差 ±0.03 0.04 0.05

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