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基于 NI TestStand 和 LabVIEW 开发模块化的软件架构
行业趋势：当今市场上的挑战
当今企业所面临的挑战之一是测试成本越
来越高。由于设备的复杂性不断增加，所以测试这些设备的成本也在不断提高。 因为测试对于产品质量至关重要,而更加复杂的电子设备需要更新式、更先进的 测试仪器，所以产品的测试成本过高，无法与其较低的制造成本保持一致。 当今，测试工程师身处在这样一个产品开发环境之中：
产品设计比前几代更
加复杂 为保持竞争力并满足市场需求，开发周期不断缩短 预算不断缩减，但 产品测试却越来越昂贵 模块化测试框架：软件定义的测试方法 为了满足缩短 开发周期、实现较大范围的产品组合、减少预算以及完成更复杂产品的挑战， 测试工程师们不得不放弃专一的、针对特定应用的交钥匙测试系
统。这些系
统缺少灵活性，难以适应和添加新功能来更新测试更新、更复杂的产品，因此， 传统解决方案，例如静态机架式仪器或专用的“big iron”ATE 系统都无法有效地 满足当今的市场需求。
为满足这些需求，测试经理和工程师们转向了基于行
增加测试系统的灵活
业标准的模块化、软件定义的测试架构，它可以提供： 性，能够添加新的功能并适应它们所需要的新技术
可扩展性，根据需要增加
新的功能（和仪器） 通过减少前期投资成本及维护成本来降低测试系统成本， 同时增加设备和代码的重用率 通过硬件抽象层降低硬件折旧的风险 设计高效 的模块化测试系统需要的架构是能够分离出测试系统（图 1）的不同组成部分-- 主要是将测试代码和仪器之间以及测试代码和总体测试管理架构之
间解耦。
这种将测试系统模块化地解耦为不同的组成部分，以及通过软件定义仪器功能 的能力是更快更经济地开发灵活测试系统的关键因素。 图 1. 测试系统架构 测试管理软件：NI TestStand 一个自动化测试系统需要执行诸多任务和测量 操作步骤，其中有些操作是针对特定的被测设备（Device under test, DUT），而
其它的则是适用于各种被测设备。传统的测试系统通常将两种操作类型整合到 同一个单一的软件层。在这种范式下，当项目的要求发生变化时，测试系 的每个部分都需要更改，并且代码的重用变得非常繁琐。
统
一个模块化的测试
系统架构需要明确划分系统级任务与 DUT 级任务。系统级任务对于每一个设 备（测试管理软件）通常是相同的，而 DUT 级任务对于每个 测试设备（测试 代码）是不同的。如图表 1 所示即为 DUT 级和系统级任务间的区别。这种划 分使得测试工程师们能够快速地重用、维护和修改测试管理软件的组
件，而
不会影响实际的测试代码，反之亦然。 表 1. 测试管理软件任务与测试开发软 件任务
NI TestStand 是 NI 推出的一款功能强大、可立即执行的测试管理软件，用于 开发、部署及执行测试系统软件（如图 2 所示）。其核心在于 NI TestStand 是一 个测试执行程序，允许测试人员按照序列调用测试代码，而且该代码可以由任 何编程语言编写。此外，NI TestStand 还提供了现成可用的常见测试管理软件 功能，如下所列： 将结果记录到任何 OLEDB 或 ODBC 数据库 报告可以生成 多种格式，包括 HTML、文本、XML 和 ATML 管理不同访问级别的用户 测 试限制管理 简单和高级的操作界面 并行测试功能，允许在一个单一的 DUT 上同时测试多种产品或运行多个测试 tips:感谢大家的阅读，本文由我司收集整 编。仅供参阅！
本文来源：https://www.wddqxz.cn/916836491dd9ad51f01dc281e53a580216fc50dc.html
2022-12-12
